美國(guó)MORSTE/MG660表面劃痕檢查燈的產(chǎn)品詳情：

MG660表面檢查燈采用大功率LED光源，適用于精密工件表面上的劃痕、刮痕，污垢、異物等目視檢查。可以確認(rèn)10um以下的傷痕和微顆粒，采用人眼敏感的光線，照射面積廣，操作簡(jiǎn)單，旋鈕可調(diào)節(jié)亮度，燈頭可自由調(diào)整照射角度。

美國(guó)MORSTE/MG660表面劃痕檢查燈的產(chǎn)品特點(diǎn)：

● 采用24w 大功率led。

● 瞬間啟動(dòng)，無需預(yù)熱。

● 50cm柔性臂，可自由調(diào)整照射角度。

● 旋鈕可調(diào)節(jié)光亮度。

● 配置勻光板，觀察不刺眼。

● 無風(fēng)扇設(shè)計(jì)可以在潔凈室使用。

● 中心照度（at 30cm）。

●  MG680約49000 Lux（安裝透明過濾器時(shí)）。

●  MG670 約59000 Lux（安裝透明過濾器時(shí)）。

● 鋁合金外殼，自然冷卻。

● 黃光、白光、綠光三種光可選。

● 可選購(gòu)濾色鏡(綠色)，可以用大約500-600nm的范圍內(nèi)的綠色光源進(jìn)行檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù)：

常規(guī)應(yīng)用：

晶圓表面質(zhì)量檢查。

液晶濾光片和彩色濾光片檢查。

玻璃鏡片表面劃痕和異物檢查。

硅玻璃表面劃痕和異物檢查 。

光掩膜表面劃痕和異物檢查 。

膠片表面劃痕和異物檢查 。

陶瓷表面檢查 。

金屬表面（鋁、不銹鋼、銅等）。

觸摸屏表面檢查 。

汽車油漆質(zhì)量。

半導(dǎo)體和芯片制造中的晶圓檢測(cè)。

太陽能行業(yè)和光伏發(fā)電的晶圓測(cè)試。

外延晶圓的檢測(cè)。

單晶硅片和多晶晶片的光學(xué)測(cè)試。

硅片表面的目視測(cè)試。

原晶圓和結(jié)構(gòu)化晶圓的測(cè)試。

外延晶圓（EPI晶圓）和SOI晶圓表面分析。

用黃光燈測(cè)試金晶圓。

使用紫外燈目視檢查晶體硅片。

所有材料晶圓的光學(xué)表面檢測(cè)：硅、鍺、碳化硅、砷化鎵、藍(lán)寶石、玻璃等。

SEMI標(biāo)準(zhǔn)晶圓的目視檢測(cè)。

鍵合晶圓、膠帶晶圓的質(zhì)量檢查。

視覺晶圓檢測(cè)也適用于裸晶圓、薄晶圓和扇出晶圓。

強(qiáng)曲面晶圓（eLWB等）的光學(xué)質(zhì)量控制和檢測(cè)等。

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